Zeptools ZEM20 PRO — высокотехнологичный настольный сканирующий электронный микроскоп, разработанный для детального исследования микроструктуры и морфологии поверхности различных материалов. Отличительной особенностью модели является термоэмиссионный источник электронов на основе монокристалла гексаборида лантана (LaB6). Благодаря высокой яркости электронного пучка и низкому уровню шумов микроскоп позволяет получать чёткие, контрастные изображения с высокой детализацией.
Использование катода LaB6 обеспечивает не только улучшенное качество визуализации, но и увеличенный ресурс электронной пушки. Срок службы одного источника электронов достигает 3 лет эксплуатации, что значительно превышает рабочий ресурс традиционной вольфрамовой нити. Это позволяет сократить частоту замены катода и связанные с ней эксплуатационные затраты.
В ZEM20 PRO предусмотрен режим низкого вакуума, благодаря которому упрощается подготовка непроводящих образцов к исследованию. Такая возможность расширяет спектр анализируемых материалов и позволяет решать задачи, для которых использование стандартного высоковакуумного режима может быть затруднительным. Увеличенная вакуумная камера обеспечивает достаточно пространства для размещения габаритных и сложных по форме объектов.
Для позиционирования образцов микроскоп может оснащаться пятиосевым моторизованным столиком вместо стандартного столика с перемещением по координатам X и Y. Дополнительные степени свободы позволяют поворачивать и наклонять исследуемый объект непосредственно внутри вакуумной камеры, выбирая необходимый угол наблюдения. Это особенно удобно при изучении рельефа поверхности и отдельных участков деталей со сложной геометрией.
В качестве дополнительной опции предусмотрена цифровая камера для наблюдения за положением предметного столика. Она обеспечивает визуальный контроль перемещения, поворота и наклона образца, облегчая точное позиционирование в процессе исследования.
Ещё одной функциональной особенностью Zeptools ZEM20 PRO является режим торможения электронного луча. Его применение позволяет проводить более точное исследование морфологических особенностей поверхности, расширяя аналитические возможности микроскопа при работе с различными типами образцов.
Сочетание яркого долговечного источника электронов LaB6, низковакуумного режима, расширенных возможностей позиционирования и современных методов формирования изображения делает ZEM20 PRO эффективным инструментом для материаловедения, научных исследований и лабораторного контроля качества.