ZEM 20 - настольный сканирующий электронный микроскоп

Настольный сканирующий электронный микроскоп Zeptools ZEM20

Zeptools ZEM20 — современный настольный сканирующий электронный микроскоп с расширенными возможностями исследования поверхности и структуры различных материалов. Модель сочетает компактное исполнение с функциональностью, необходимой для решения широкого круга лабораторных и исследовательских задач. Благодаря дополнительным опциям оборудование можно адаптировать под особенности конкретных образцов и требования проводимых испытаний.

Одной из особенностей ZEM20 является поддержка режима низкого вакуума. Он позволяет упростить подготовку непроводящих образцов к исследованию и расширяет перечень материалов, доступных для электронной микроскопии. Увеличенный объём вакуумной камеры обеспечивает возможность размещения сравнительно крупных объектов, что особенно важно при анализе деталей сложной формы.

В стандартной конфигурации для позиционирования образца используется столик с перемещением по осям X и Y. В качестве дополнительного оснащения доступен пятиосевой моторизованный столик, позволяющий не только перемещать, но и поворачивать и наклонять исследуемый объект внутри вакуумной камеры. Это помогает выбирать оптимальный ракурс наблюдения и изучать различные участки поверхности без необходимости извлекать образец из микроскопа.

Для визуального контроля положения образца может устанавливаться дополнительная цифровая камера. С её помощью оператор отслеживает перемещение и изменение угла наклона столика, что повышает удобство позиционирования при работе с габаритными или геометрически сложными объектами.

Zeptools ZEM20 поддерживает расширенные возможности исследования элементного состава материалов. При необходимости функциональность системы дополняется автоматизированными инструментами сбора данных. Также предусмотрена возможность использования специализированных столиков для проведения динамических экспериментов, включая нагрев, охлаждение, растяжение и сжатие образцов.

Благодаря сочетанию улучшенных параметров разрешения, расширенного диапазона ускоряющего напряжения и гибкой системы дополнительного оснащения ZEM20 подходит для материаловедческих исследований, контроля качества и решения специализированных аналитических задач.

Основные преимущества Zeptools ZEM20:

• улучшенные характеристики разрешения и ускоряющего напряжения для детального исследования образцов;
• расширенные возможности анализа элементного состава с опциональной автоматизацией сбора данных;
• увеличенная вакуумная камера для размещения крупногабаритных объектов;
• режим низкого вакуума для упрощения исследования непроводящих материалов;
• возможность установки пятиосевого моторизованного столика для точного позиционирования образцов;
• дополнительная цифровая камера для контроля перемещения и наклона столика;
• совместимость со специализированными столиками для динамических испытаний, включая нагрев, охлаждение, растяжение и сжатие.