ZEM Ultra - настольный сканирующий электронный микроскоп

Сканирующий электронный микроскоп Zeptools ZEM Ultra

Zeptools ZEM Ultra — высокоразрешающий сканирующий электронный микроскоп, предназначенный для детального исследования микроструктуры, морфологии и особенностей поверхности различных материалов. Модель оснащена современным источником электронов с полевой эмиссией — катодом Шоттки, который обеспечивает высокую яркость электронного пучка и позволяет получать изображения с разрешением менее 2 нм.

Применение полевоэмиссионного источника электронов обеспечивает высокую детализацию изображений и расширяет возможности исследования мельчайших структурных элементов. Благодаря сочетанию высокого разрешения и значительного увеличения микроскоп подходит для материаловедческих исследований, изучения покрытий, анализа микрочастиц и решения других задач, требующих точной визуализации поверхности образцов.

В отличие от традиционных настольных моделей, Zeptools ZEM Ultra имеет усовершенствованную напольную конструкцию. Такое исполнение дополнено специальными защитными механизмами, предназначенными для снижения влияния внешних вибраций и электромагнитных помех. Это способствует повышению стабильности электронно-оптической системы и созданию благоприятных условий для получения изображений высокого качества.

Одним из важных преимуществ модели является увеличенная вакуумная камера, аналогичная по концепции камере микроскопа ZEM20. Расширенное внутреннее пространство позволяет размещать более габаритные образцы и использовать различные варианты предметных столиков. Благодаря этому исследователь получает больше возможностей для работы с объектами разной формы и размеров.

Конструкция ZEM Ultra предусматривает установку двух-, трёх- и пятиосевых предметных столиков. В зависимости от выбранной конфигурации они обеспечивают необходимые возможности позиционирования образца внутри камеры. Дополнительно может быть интегрирована цифровая обзорная камера, позволяющая контролировать расположение исследуемого объекта и упрощать навигацию при выборе участков анализа.

Микроскоп также поддерживает использование специализированных предметных столиков для проведения динамических испытаний непосредственно в процессе электронно-микроскопического наблюдения. В зависимости от установленного оборудования возможно исследование изменений структуры материала при нагреве, охлаждении, растяжении и сжатии. Такой подход позволяет изучать поведение образцов под воздействием различных внешних факторов.

Дополнительным эксплуатационным преимуществом является продолжительный срок службы полевоэмиссионного источника электронов, который может достигать 5 лет. Это позволяет уменьшить частоту обслуживания электронной пушки и обеспечивает удобство длительной эксплуатации оборудования.

Zeptools ZEM Ultra объединяет высокие электронно-оптические характеристики, устойчивую конструкцию, увеличенную камеру образцов и широкие возможности дополнительного оснащения. Микроскоп представляет собой универсальное решение для научно-исследовательских лабораторий, промышленных предприятий и центров материаловедения, выполняющих сложные задачи электронной микроскопии.

Основные преимущества Zeptools ZEM Ultra:

• полевоэмиссионный источник электронов с катодом Шоттки, обеспечивающий высокую яркость и стабильность электронного пучка;
• разрешение менее 2 нм для детального исследования мельчайших элементов микроструктуры;
• высокое увеличение и превосходная детализация электронно-микроскопических изображений;
• продолжительный срок службы источника электронов — до 5 лет;
• усовершенствованная напольная конструкция с дополнительной защитой от вибраций и электромагнитных помех;
• увеличенная вакуумная камера для размещения и исследования габаритных образцов;
• возможность установки двух-, трёх- и пятиосевых предметных столиков для позиционирования исследуемых объектов;
• возможность интеграции цифровой обзорной камеры для контроля положения образца внутри камеры;
• широкий выбор специализированных столиков для динамических испытаний материалов;
• возможность исследования образцов при нагреве, охлаждении, растяжении и сжатии;
• гибкая конфигурация оборудования для решения научных, исследовательских и производственных задач.